加州理工華人資深研究員湯朝暉（Jau Tang）和諾貝爾獎得主齊威爾（Ahmed H.Zewail）教授9日在「科學」雜誌（（Science）上發表文章，解釋四維掃描電子顯微（SEM）技術，為華人爭光。

湯朝暉是台灣國立交通大學光電所合聘教授，在建構光合作用系統結構、發展多量子核磁共振與量子點發光研究等方面的貢獻受到肯定。他與諾貝爾化學獎得主美國加州理工學院的齊威爾教授的研究團隊共同合作，於9日在國際著名的《科學》（Science）期刊發表題為「p­n型半導體界面電荷動態之四維顯像」論文。論文闡釋四維掃描電子顯微（SEM）技術同時也提供科學家充分了解奈米尺度下半導體界面的異常超快特性。

他說，此篇論文主要闡述四維（時間+3維空間）掃描電子顯微技術在探索奈米世界中超快現象之重要運用。四維電子掃描顯微技術是一種新的顯像技術，可以探測到奈米尺寸、數飛秒時間（千兆分之一秒，10-15秒）的動態行為影片，可運用在奈米材料科學和醫學等多領域。譬如，了解在飛秒雷射脈衝下所激發正負荷電粒子在雙極半導體界面之超快運動，即可幫助科學家與產業界了解日常生活中所使用電子產品內積體電路的雙極體及電晶體基本物理性質。充分理解奈米尺度下半導體物理是未來技術發展重要的一環。

湯朝暉提出彈道電子以及界面閘門效應理論來解釋這些新現象的物理機制，在團隊中具有非常重要的貢獻。他認為齊威爾教授研究小組所發展的四維電子顯像學和此技術所帶來對奈米材料特性的新發現，可望未來將再次挑戰諾貝爾獎。